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实时活细胞成像仪-实时荧光定量分析仪-实验室无损检测用超声波探伤仪-广东森德仪器有限公司 网站首页 产品中心 关于我们 新闻资讯 技术文章 在线留言 联系我们 免费咨询热线： 17688459448 热门搜索：Nicolet iS20FTIR 光谱仪DM2700 M 正置金相显微镜高低温试验箱SDE-GWX系列高温试验箱SDE-YH系列压力烘箱SDE-GWX系列大型烘箱SDE-DH系列氮气烘箱无尘无氧化烘箱SDE-JH系列洁净烘箱SDE-WYH系列无氧化烘箱SDE-WYH系列真空鼓风充氮烘箱SDE-GWX系列高温烘箱SDE-DZH系列充氮真空烘箱EXPEC 5700液相色谱-三重四极杆质谱联用仪EXPEC 5800液相色谱-四极杆飞行时间串联质谱仪EXPEC 790F 全自动超级微波消解系统 about 关于我们 广东森德仪器有限公司 广东森德仪器有限公司，作为一家广东省的实验室一站式整体解决方案服务提供商，提供实验室前期规划咨询、实验室分析仪器销售、仪器维修、试剂耗材年度采购、产品调研等服务，销售的科学仪器涉及实验室基础仪器、生物制药、材料表征、理化分析、物性检测、光学仪器、生命科学、样品前处理等领域。长期持续地为客户提供专业的选型意见，解决客户业务开展面临的分析和检测方面的问题和挑战。行业覆盖高等院校，科研单位，政府机构、制药，材料、化工，食品，化妆品，电子，汽车，油漆，电池、环境、第三方检测等。森德仪器致力于为客户提供高质量、高性价比的产品和服务。成就客户是我们的初衷，和客户一起成长是我们愿望。 查看更多 2022年 公司成立 500万 注册资金 365天 用心服务客户 product 产品展示 分析仪器 物性检测仪器 样品前处理仪器 实验室通用仪器 生命科学仪器 光学仪器 915 KF Ti-Touch 精灵一代全自动卡式水分测定仪 MCR 102e/302e/502e模块化智能型流变仪 Element XRTM 电感耦合等离子体质谱仪 TG 309 Libra®热重分析仪 FTIR-650傅里叶变换红外光谱仪 便携一体式旋转磁场探伤仪 MT-1XY系列 数字式超声波探伤仪 MUT100S AM-7000系列白光干涉测厚仪 XT-9920密闭式智能微波消解仪 ATR Super SPE 360全自动超级固相萃取仪 Celloger Pro实时活细胞成像分析系统 CellogerNano实时活细胞成像仪 information 资讯中心 news新闻资讯 article技术文章 2025深圳展圆满收官！多元展区成果丰硕，电子半导体科技新潮流 2025深圳展圆满收官！多元展区成果丰硕，电子半导体科技新潮流2025年4月11日，第十三届中国电子信息博览会携手2025中国半导体产业与应用博览会展于4月11日在深圳圆满收官。近60,000平米的展会现场，汇聚了1200家优质企业，共吸引观众55,891人，编织出这场科技盛宴的斑斓图景，见证电子科技的日新月异，感受创新带来的无限可能与希望。从热络的技术洽谈和频频出现的外国观众面孔中，可管窥出中国电子信息产业的蓬勃生机。本届展会紧扣行业热点，围绕“元器件—系统集成—终端应用”... 2026-01-26 查看详情 实验室用紫外分光光度计的波长准确度与分辨率验证 实验室用紫外分光光度计进行物质定性定量分析的核心设备，其波长准确度（波长示值与真实值的偏差）与分辨率（区分相邻吸收峰的能力）直接决定分析结果的准确性——波长偏差会导致特征吸收峰定位错误，分辨率不足则无法识别复杂样品中的重叠峰。定期开展两项指标的验证，是保障仪器性能稳定、符合实验数据溯源要求的关键环节。一、波长准确度验证：校准“光谱定位标尺”波长准确度验证的核心是通过已知特征波长的标准物质，对比仪器示值与标准值的偏差，确保波长示值精准。验证原理与标准物质选择利用标准物质（如镨钕... 2025-10-22 查看详情 表面测量用白光干涉仪在三维轮廓分析中的应用 表面测量用白光干涉仪在三维轮廓分析中具有高精度、非接触、实时测量等显著优势，广泛应用于半导体制造、光学加工、汽车零部件制造、材料科学研究、微机电系统（MEMS）研究及航空航天等领域，为各行业提供关键技术支持。以下从技术原理、核心优势、应用场景及典型案例四个维度展开分析：一、技术原理：干涉条纹定位表面高度白光干涉仪通过分光棱镜将光源分为参考光和物光，两束光分别经参考镜和被测表面反射后汇合，形成干涉条纹。由于白光相干长度极短（仅数微米），仅在光程差接近零时出现清晰干涉条纹，这一特... 2025-09-19 查看详情 如何根据需求选择实验室无损检测用超声波探伤仪？ 根据需求选择实验室无损检测用超声波探伤仪时，可以遵循以下步骤和原则：一、明确检测需求1.材料类型与厚度：不同材料和厚度对超声波探伤仪的要求不同。例如，金属材料常用的工作频率为1~10MHz，而复杂结构或高精度的检测可能需要更高的频率和分辨率。对于混凝土、陶瓷等非金属材料，通常需要更低的频率范围。2.缺陷类型与位置：明确需要检测的缺陷类型（如裂纹、夹杂、气孔等）和位置（如表面、近表面、深部），以便选择合适的探头频率和尺寸。高频探头分辨率更高，适合检测小缺陷；低频探头穿透力强，适... 2025-08-20 查看详情 指尖上的仪器，风云再起-广东森德仪器有限公司 指尖上的仪器，风云再起！——广东森德仪器有限公司走向高精度检测新浪潮产品以稳定性强、误差率低、便携高效等优势赢得市场青睐。公司负责人表示：“我们始终坚持以技术创新驱动发展，未来将持续优化产品线，为客户提供更智能、更可靠的检测解决方案。”指尖上的仪器，风云再起！本次展会介绍了公司专注于气相产品研发，包括检测器、质谱仪及相关软件等，涵盖环境、化工等领域，部分产品还实现了国产化创新。公司还提供跨平台软件解决方案，支持多种操作系统，满足不同行业需求。打造广东森德仪器品牌为使命，不断以... 2025-08-04 查看详情 实验室磁粉探伤设备如何操作？ 实验室磁粉探伤设备的操作通常遵循以下步骤：一、准备阶段1.了解被检测物体：确认被检测物体的材料和尺寸，以便选择合适的磁粉和磁场强度。根据被探件的材料、形状、尺寸及需检查缺陷的性质、部位、方向和形状等的不同，选择合适的磁化方法和磁化电流种类。2.清洁被检测物体：清除被检测物体表面的油污、铁锈、氧化皮等杂质，以确保检测结果的准确性。3.设备检查：检查磁粉探伤仪的电源、各表、按钮是否正常工作。检查干粉喷洒器是否堵塞，以及灵敏度是否符合标准要求。二、设置阶段1.连接电源：将磁粉探伤仪... 2025-07-22 查看详情 广东超声波探伤仪对焊点的无损检测 广东地区使用超声波探伤仪对焊点的无损检测是一种常见的工业检测方法，以下是对其的详细解释：一、超声波探伤仪的基本原理超声波探伤仪是利用超声能透入金属材料的深处，并由一截面进入另一截面时，在界面边缘发生反射的特点来检查零件缺陷的一种方法。当超声波束自零件表面由探头通至金属内部，遇到缺陷与零件底面时就分别发生反射波，在荧光屏上形成脉冲波形，检测人员根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小。二、超声波探伤仪在焊点检测中的应用1.检测目的：利用广东超声波探伤仪对焊点进行无损检测，旨在发现焊... 2025-06-19 查看详情 样品制备对实验室用DSC热分析仪结果的影响 样品制备对实验室用DSC热分析仪果的影响是多方面的，以下是具体分析：一、样品量与均匀性1.样品量：样品量的多少会直接影响实验的灵敏度和分辨率。样品量过少，可能导致灵敏度下降，无法准确捕捉到热效应；而样品量过多，则可能降低分辨率，使得热效应变得模糊。例如，在进行熔融测试时，随着样品质量的增加，熔融峰值温度会向高温侧移动，同时峰型会变矮变宽，但峰面积基本不变。这说明不同质量的样品会影响熔融的峰值温度，但对熔融热焓基本没有影响。因此，应严格控制样品量，一般固体样品控制在3~10mg... 2025-05-26 查看详情 【02材料表征核心技术】之XRD技术：应变缺陷综合表征系统 副标题：从Aeris快速筛查到多维度表征的一体化解决方案发布信息发布日期：2025年08月01日作者：森德仪器/应用技术部仪器类别：分析仪器阅读时间：约8分钟关键词：X射线衍射、XRD、应变分析、缺陷表征、Aeris紧凑型XRD、高通量筛查、森德仪器摘要材料内部残余应力与微观缺陷是决定其服役性能与可靠性的关键因素。构建高效的应变缺陷综合表征系统，需要匹配不同精度与效率需求的解决方案。本文提出一种分级工作流：首先，利用Aeris紧凑型XRD进行快速、高通量的初步筛查与趋势分析，... 2026-02-04 查看详情 【02材料表征核心技术】之GD-MS技术：ppt级杂质精准检测方法 副标题：构建高纯材料分析实验室的关键要素解析发布信息发布日期：2025年07月25日作者：森德仪器/应用技术部仪器类别：分析仪器阅读时间：约15分钟关键词：GD-MS、辉光放电质谱、ppt级检测、高纯材料、杂质分析、实验室基础设施、森德仪器摘要实现材料中ppt（万亿分之一）级别杂质的精准检测，是半导体、核工业、航空航天等前沿领域材料研发与质量控制的核心挑战。辉光放电质谱（GD-MS）技术因其对固体样品的直接分析能力和灵敏度，成为解决这一难题的黄金标准。然而，要确保GD-MS分... 2026-02-04 查看详情 【02材料表征核心技术】之晶圆污染物：从颗粒到分子级检测技术 副标题：结合Nicolet™iS20FTIR光谱仪实现污染物分子级溯源与过程控制闭环发布信息发布日期：2025年07月20日作者：森德仪器/应用技术部仪器类别：分析仪器阅读时间：约12分钟关键词：晶圆污染物、分子级检测、FTIR光谱仪、失效分析、过程监控、化学指纹图谱、光谱数据库、森德仪器、半导体质量控制摘要随着半导体制造工艺向5纳米及以下节点推进，晶圆表面污染物检测已从单纯的颗粒计数发展为集物理、化学分析于一体的系统性表征技术。本文系统阐述了晶圆污染物检测技术从... 2026-02-04 查看详情 【04缺陷检测与失效分析】之X射线检测：2D/3D封装分析系统 基于蔡司Xradia515Versa的高分辨率三维无损检测技术解析发布信息发布日期：2023年11月15日作者：森德仪器/应用技术部仪器类别：分析仪器阅读时间：约8分钟关键词：X射线检测、缺陷检测、失效分析、2D封装、3D封装、X射线显微镜、亚微米成像、无损检测、蔡司Xradia、森德仪器、实验室设备摘要本文深入解析基于蔡司Xradia515VersaX射线显微镜构建的2D/3D封装分析系统在缺陷检测与失效分析中的应用。该系统采用的大工作距离高分辨率（RaaD）成像技术，在保... 2026-02-02 查看详情 【04缺陷检测与失效分析】之热光发射显微：热点漏电定位解决方案 副标题：ThermoScientific™ELITE系统在半导体失效分析中的高精度热成像应用发布信息发布日期：2025年7月31日作者：森德仪器/应用技术部仪器类别：分析仪器、检测设备阅读时间：约8分钟关键词：锁相红外热成像、LIT、热光发射显微、热点定位、漏电分析、失效分析、半导体测试、森德仪器、ELITE系统摘要随着半导体工艺节点不断微缩、三维集成技术快速发展，器件内部的缺陷检测和失效分析面临的挑战。局部漏电、微短路等缺陷通常伴随着微弱的热信号，如何在复杂的封... 2026-02-02 查看详情 【04缺陷检测与失效分析】之FIB关键应用：电路修复与样品制备技术 副标题：聚焦离子束技术的双重角色：从纳尺度精确修复到高质量分析样品制备发布日期：2023年11月7日作者：森德仪器/应用技术部仪器类别：分析仪器/显微加工设备阅读时间：约12分钟关键词：聚焦离子束、电路修复、样品制备、TEM制样、FIB-SEM、微纳加工、失效分析、森德仪器摘要聚焦离子束技术作为现代微纳加工与分析的革命性工具，在缺陷检测与失效分析领域扮演着两大关键角色：一是高精度的纳尺度电路修复，二是用于分析的高质量样品制备。本文深入探讨了FIB在这两个核心应用中的技术原理、... 2026-02-02 查看详情 【04缺陷检测与失效分析】之失效分析流程：现象到根因系统方法 副标题：构建从宏观现象到微观机理的完整分析链条与仪器解决方案发布日期：2026年1月30日作者：森德仪器/应用技术部仪器类别：分析仪器/检测设备阅读时间：约15分钟关键词：失效分析、根因分析、检测流程、仪器配置、缺陷定位、森德仪器摘要失效分析是保障产品质量、提升工艺水平、推动技术创新的核心工程技术。本文系统阐述了一套从失效现象出发，逐步深入直至发现根本原因的科学分析流程与方法。文章构建了一个从宏观现象观察、非破坏性定位、样品制备处理到微观结构/成分/物性分析的完整技术链条，并... 2026-01-30 查看详情 【04缺陷检测与失效分析】之电子束检测：高分辨率EBR技术原理与应 副标题：基于蔡司GeminiSEM360场发射扫描电镜的高分辨率缺陷成像与分析技术深度解析发布日期：2026年1月30日作者：森德仪器/应用技术部仪器类别：分析仪器/显微成像设备阅读时间：约10分钟关键词：电子束检测、高分辨率成像、场发射扫描电镜、缺陷检测、失效分析、GeminiSEM、亚纳米分辨率、森德仪器摘要随着半导体制造、材料与纳米技术领域对缺陷检测精度要求的不断提升，高分辨率电子束检测技术已成为核心分析手段。本文聚焦于高分辨率电子束检测（EBR）的技术原理与前沿应用，... 2026-01-30 查看详情 case 应用案例 查看更多 links 无动力游乐设备 新乡综合布线 3M双面胶带 霍尔效应测试仪 在线粘度计 石家庄玉石 FRPP管材 线路视频在线监测装置 联系电话 17688459448 01 联系邮箱 sende_services@outlook.com 02 联系QQ 2636855151 03 网站首页 关于我们 产品中心 新闻资讯 技术文章 联系我们 Copyright © 2026 广东森德仪器有限公司 版权所有   备案号：粤ICP备2024330462号    sitemap.xml    技术支持：化工仪器网   管理登陆 2636855151 --> TEL：17688459448 扫码加微信

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